<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>Bề Mặt on Pure Quartz Infrared Heaters</title>
		<link>http://pure-quartz-ir-heater.com/vi/tags/b%E1%BB%81-m%E1%BA%B7t/</link>
		<description>Recent content in Bề Mặt on Pure Quartz Infrared Heaters</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>vi</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Mon, 29 Jun 2026 02:53:46 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://pure-quartz-ir-heater.com/vi/tags/b%E1%BB%81-m%E1%BA%B7t/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>Thiết bị đo sức căng bề mặt của wafer</title>
				<link>http://pure-quartz-ir-heater.com/vi/posts/wafer-surface-tension-measurement-heater/</link>
				<pubDate>Mon, 29 Jun 2026 02:53:46 +0800</pubDate>
				<guid>http://pure-quartz-ir-heater.com/vi/posts/wafer-surface-tension-measurement-heater/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://pure-quartz-ir-heater.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png&#34; alt=&#34;Thiết bị đo sức căng bề mặt của wafer&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;Trong quy trình in ấn bằng phương pháp lithography, sự sai lệch nhiệt độ chỉ 0,5 độ C trong quá trình nung khô cũng không phải là con số nhỏ. Sự sai lệch này khiến dòng chảy của chất &lt;a href=&#34;https://goldisgood.com&#34;&gt;photoresist&lt;/a&gt; thay đổi, ảnh hưởng đến việc kiểm soát kích thước các chi tiết sản phẩm, và khiến tỷ lệ sản phẩm đạt tiêu chuẩn giảm xuống. Trên dây chuyền sản xuất, điều này dẫn đến việc phải loại bỏ sản phẩm lỗi, phải sửa chữa lại sản phẩm, và làm chậm tiến độ sản xuất. Chúng tôi đã thiết kế các bộ gia nhiệt để đo mức độ căng bề mặt của wafer, nhằm ngăn chặn sự biến đổi nhiệt độ ngay từ đầu.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
