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		<title>긴장 on Pure Quartz Infrared Heaters</title>
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				<title>와이어 표면 장력 측정용 히터</title>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://pure-quartz-ir-heater.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png&#34; alt=&#34;와이어 표면 장력 측정용 히터&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;리소그래피에서는 소프트 베이크나 하드 베이크 과정 중에 약 0.5도 정도의 온도 변화도 “작은 오차”로 간주될 수 없습니다. 이러한 온도 변화는 포토레지스트의 흐름을 변화시키고, 치수 제어를 어렵게 만들며, 최종 제품의 품질도 저하시킵니다. 생산 현장에서는 이러한 문제가 바로 폐기물 증가, 재작업, 일정 지연으로 이어집니다. 우리는 웨이퍼 표면의 온도 변화를 사전에 방지하기 위해 특수한 가열 장치를 개발했습니다.&lt;/p&gt;</description>
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