<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>緊張 on Pure Quartz Infrared Heaters</title>
		<link>http://pure-quartz-ir-heater.com/ja/tags/%E7%B7%8A%E5%BC%B5/</link>
		<description>Recent content in 緊張 on Pure Quartz Infrared Heaters</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>ja</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Mon, 29 Jun 2026 02:53:46 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://pure-quartz-ir-heater.com/ja/tags/%E7%B7%8A%E5%BC%B5/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>ウェーハ表面張力測定用ヒーター</title>
				<link>http://pure-quartz-ir-heater.com/ja/posts/wafer-surface-tension-measurement-heater/</link>
				<pubDate>Mon, 29 Jun 2026 02:53:46 +0800</pubDate>
				<guid>http://pure-quartz-ir-heater.com/ja/posts/wafer-surface-tension-measurement-heater/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://pure-quartz-ir-heater.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png&#34; alt=&#34;ウェーハ表面張力測定用ヒーター&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;リソグラフィーにおいて、ソフトベイクやハードベイクの際に半度程度の温度変動があっても、それは「小さな誤差」とは言えません。このような温度変動により、フォトレジストの流れが変わり、重要な寸法制御が乱れ、結果として歩留まりが低下します。実際の生産現場では、これがスクラップや再加工、工程の遅延につながります。私たちは、ウェーハ表面の張力を測定するヒーターを開発し、熱的なばらつきがウェーハに影響を与える前にそれを防ぎます。&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
