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		<title>Ellissometria on Pure Quartz Infrared Heaters</title>
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		<description>Recent content in Ellissometria on Pure Quartz Infrared Heaters</description>
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				<title>Riscaldatore per sonda di ellipsometria per wafer</title>
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				<pubDate>Fri, 26 Jun 2026 01:31:42 +0800</pubDate>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://pure-quartz-ir-heater.com/images/c4487c91a5d0bd93963bf8b3a19ba704.png&#34; alt=&#34;Riscaldatore per sonda di ellipsometria per wafer&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;Nel processo di litografia, anche un deflesso di mezzo grado durante la fase di essiccazione del fotoresistenza è sufficiente per trasformare un profilo di spessore ben controllato in uno spessore irregolare. Il riscaldatore integrato nell’elettrodo per l’ellipsometria è stato progettato apposta per impedire tale deflesso fin dall’inizio. È stato progettato tenendo conto delle condizioni termiche legate all’essiccazione dei wafer, alla preriscaldazione del fotoresistenza e alla fase di essiccazione successiva all’esposizione: in questi casi, l’uniformità della temperatura è fondamentale per garantire una geometria corretta del dispositivo.&lt;/p&gt;</description>
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